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XPS 测试及分峰问题

有个问题困惑我很久了，我在用XPS分析纳米粒子表面配体（如巯基丙酸MPA）时，得到的结果很差，如果用铟作基底，对碳分峰总会得到小于284.8ev的峰，而且，重复性很差。即使是用污染碳284.8ev方法作校准后，我用XPSPEAK这个软件分峰，有时也会得不到284.8ev的峰，要固定一下，但这样得到的峰很小很弱，不知道哪出问题了。让同学用cssaXPS 分析得道的拟合峰又与原始峰有很大差别，很是困惑。希望在这能够得到一些指点。~5]"|#n!CgwG
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[[i] 本帖最后由 fanhbu 于 2008-05-26 11:26 编辑 [/i]]

如果方便，请把你的全谱和高分辨的C1s谱上传到某一网络硬盘，帮你看看。你的C1s峰应该很强，不是你说的情况。峰位置的不稳定可能与样品的导电性问题有关：（1）如样品与样品台的接触，（2）仪器的问题。一般峰位置在+-0.1eV的飘动可能是仪器的实验误差。:lol :time:

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文件提不出来，是不是有问题，能不能换个无广告的，如:box.实在不行就发个电子邮件过来吧。